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實驗用高低溫箱常用于航天太空、國防工業、自動車部品、塑化工業、光纖、精密電感、晶體、PCB、LED、LCD電子零組件、食品業、制藥工業、半導體電腦周邊組件及各相關產品之研發、品質管理工程之測試規范。
實驗用高低溫箱的技術參數：
型 號 | LQ-GD-80系列 | LQ-GD-100系列 | LQ-GD-200系列 | LQ-GD-500系列 | LQ-GD-800系列 | LQ-GD-1000系列 | |
內容積 | 80L | 100L | 200L | 500L | 800L | 1000L | |
內部尺寸(cm) | 40×40×50 | 40×45×58 | 50×50×70 | 70×80×90 | 80×100×100 | 100×100×100 | |
性 能 | 系統 | 平衡調溫調濕控制系統（ BTHC系統） | |||||
溫度范圍 | 0～+150℃ / -20～+150℃ / -40～+150℃ / -70～+150℃ | ||||||
溫度波動度 | ≤± 0.5 ℃ | ||||||
溫度均勻度 | ≤ 2 ℃ | ||||||
升降溫速率：
RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。
RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。
可滿足以下標準：
GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗B：高溫試驗方法；GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗A：低溫試驗方法；GB2423.22-2008(IEC68-2-14)試驗NB：溫度循環試驗方法 。GB2423.3-2006(IEC68-2-3)試驗CA：GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法 。GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 ；
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